■Cechy produktu

*Wysoko precyzyjna analiza szorstkości powierzchni płaskiej, nachylonej, cylindrowej, powierzchni otworu wewnętrznego, łuku okrągłego, kuli itp.

*Zastosowanie różnych standardów szorstkości (GB/T3505-2000，GB/T6062-2001,GB/T10610-1998Poczekaj)

*WyposażenieX-YStoł roboczy znacznie poprawia operacyjność.

*Funkcja automatycznej korekty.

*Szeroki zakres detektorów o wysokiej rozdzielczości oraz element napędowy bezpośredni zapewniają wyższą dokładność pomiarów w porównaniu z podobnymi produktami.

*Łatwa obsługa skrzynki sterującej umożliwiającej start/Zatrzymaj pomiary, powrót itp. Górna część kierowcy/Dolna pozycja iXOperacje drobne, takie jak ruch osi.

*Przyrząd jest wyposażony w komputer i dedykowane oprogramowanie pomiarowe, dzięki czemu obsługa jest bardziej intuicyjna i wygodna, z wysoką dokładnością i stabilnością, a także wygodne wydrukowanie raportów i zapisywanie danych.

■Parametry urządzenia:

Xosi(Dział kierowcy)

1.Zakres pomiaru: 100mm

2.Rozdzielczość: 0.5μm

3.Wyniki długości:Wysoko precyzyjny czujnik przesunięcia

4.Prędkość napędu: 0 – 10mm/s

5.Prędkość pomiaru: 0.5 - 2mm/s

Zosi(Kolumny)

1.Rodzaj:Operacja elektryczna

2.Przesuń pionowo: 350mm

Detektory

1.Zakres / Rozdzielczość: 1000μm / 0.01μm

2.Końcówka igły: 2um

3.Błąd wartości: ±5%-—±7%

4.Powtarzalność pomiaru: ± 3% -—-±5%
5.Rodzaj:Indukcja różnicowa

6.Sterowanie napędem:ręcznie lubPCOperacja

Parametry oceny

1.Ra, Rq, Rz, Ry, Rz(JIS), Ry(DIN),

Rc, Rp, Rpmax, Rpi, Rv, Rvmax, Rvi,Rt, Rti, R3z, R3zi, R3y, S, Pc (Ppi), Sm,

HSC, mr, dc, plateau ratio,mrd, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Da, Dq, la, lq, Sk, Ku,

Lo, Lr, A1, A2

1.Długość próbkowania1.0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mmFunkcja kompensacji danychKompensacja pochylenia,RPłaszczyzna(